DIAS 戴爱思 红外测温系统

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DIAS Infrared GmbH 1992 年成立于德累斯顿,五十余名员工里近一半在研发,通过 DIN ISO 9001 认证,与德累斯顿工业大学长期合作。产品线覆盖「看全场」的热像仪、「扫一条线」的线扫描仪、「测一点」的点温仪、探测器与阵列、以及校准用的黑体源——测温范围从 −20 °C 一直到 3000 °C,靠换波段实现,而不是靠一台机器通吃。选型只需三件事:测什么材料、多高温度、要多快的响应。

品牌背景

1992 年成立于德国德累斯顿,50 余名员工、近半数在研发,DIN ISO 9001 认证。

产品矩阵

热像仪、线扫描仪、点温仪、探测器与阵列、黑体校准源、系统方案六类。

测温覆盖

−20 °C 至 3000 °C,按波段分工:8–14 µm 低温、3–5 µm 中温、0.8–1.1 µm 高温。

本地支持

明透工业提供选型对照、原厂样本、软件与校准服务对接。

Product Lines

DIAS 产品线总览

六条产品线按「测多大面积」区分:热像仪看整幅画面,线扫描仪看一条移动的线,点温仪只看一个点;探测器与阵列是给仪器厂做集成的部件;黑体源负责校准;系统方案把上面这些装成一台能用的设备。

产品线系列 / 型号特点典型场景
PYROVIEW 红外热像仪320L / 380L / 640L / 640M / 640G / 640F / 320N / 512N / 768N固定式与便携式,320×240 至 768×576,含长波/中波/短波工业过程监测、研发热分析
PYROLINE 红外线扫描仪128LS / 128L / 128MS / 128M / 128GS / 128G / 256L / 256M / 256G / 512N / HS 512N线扫描测温,256 Hz 常规、HS 512N 达 2000 Hz连续带材、玻璃、金属轧制
PYROSPOT 点温仪Series 1x / 2x / 3x / 4x / 5x / 8x + 特殊型单点测温,含光纤型与便携型感应加热、玻璃、半导体
PYROSENS 探测器与阵列热释电探测器与阵列高灵敏度探测单元,可配电子与光学光谱分析、气体检测、仪器集成
PYROTHERM 黑体校准源CS 400 / CS 500 / CS 1200 / CS 1500 / CS F35–F150 / CCS 130 / CCS 3-130辐射面 30–60 mm,−15…1500 °C热像仪与点温仪校准、现场核查
系统方案与服务定制光路、软件、整机集成按工况做整套方案,不只是卖仪器特殊工况、多点同步、产线集成
PYROVIEW 红外热像仪

PYROVIEW 红外热像仪

固定式与便携式工业热像仪,覆盖低、中、高温三个波段:8–14 µm 长波做常温到 500 °C,3–5 µm 中波做金属与玻璃,0.8–1.1 µm 短波做到 3000 °C。分辨率从 320×240 到 768×576,出厂配 DIAS 自有软件,可直接做区域测温与报告。

型号像素测温范围光谱范围
PYROVIEW 320L320 x 240-20 °C to 120 °C/50 °C to 500 °C8 µm to 14 µm
PYROVIEW 380L384 x 288-20 °C to 120 °C/50 °C to 500 °C8 µm to 14 µm
PYROVIEW 640L640 x 480-20 °C to 120 °C/50 °C to 500 °C8 µm to 14 µm
PYROVIEW 640M640 x 480200 °C to 500 °C3 µm to 5 µm
PYROVIEW 640G640 x 480300 °C to 700 °C4.8 µm to 5.2 µm
PYROVIEW 640F640 x 480600 °C to 1250 °Cabout 3.9 µm
PYROVIEW 320N320 x 256300 °C to 750 °C or 350 °C to 1200 °C1.4 µm to 1.6 µm
PYROVIEW 512N512 x 384600 °C to 1500 °C or 1400 °C to 3000 °C0.8 µm to 1.1 µm
PYROVIEW 768N768 x 576600 °C to 1500 °C or 1400 °C to 3000 °C0.8 µm to 1.1 µm
PYROLINE 红外线扫描仪

PYROLINE 红外线扫描仪

线扫描适合连续生产:以一条扫描线覆盖移动的带材、板材或玻璃,输出温度剖面。按被测材料选波段,按速度选扫描频率——普通型 256 Hz,HS 512N 可到 2000 Hz,用于轧钢等高速场合。

上表按原厂样本整理;同一型号的 256 / 512 Hz 取决于量程配置,订货前请确认。

型号测温范围测量频率光谱范围典型材料
PYROLINE 128LS0–80 °C256 Hz8–14 µm木材、纸、塑料、口香糖、散料、建材、纺织、食品
PYROLINE 128L50–550 °C256 / 512 Hz8–14 µm非金属表面、涂层材料
PYROLINE 128MS200–800 °C256 Hz3–5 µm建材(粘土、砖)、金属(非铁、轧钢)
PYROLINE 128M450–1250 °C256 Hz3–5 µm金属轧制、高温窑炉
PYROLINE 128GS250–800 °C256 Hz4.8–5.2 µm玻璃:浮法、容器、瓶、玻璃熔体
PYROLINE 128G450–1250 °C256 Hz4.8–5.2 µm玻璃表面
PYROLINE 256L50–550 °C / 150–800 °C256 / 512 Hz8–14 µm非金属、涂层金属
PYROLINE 256M450–1250 °C256 Hz3–5 µm陶瓷、金属
PYROLINE 256G450–1250 °C256 Hz4.8–5.2 µm玻璃表面
PYROLINE 512N600–1500 °C(可选 1400–3000 °C)256 Hz0.8–1.1 µm钢、不锈钢、钢熔体
PYROLINE HS 512N600–1500 °C(可选 1400–3000 °C)2000 Hz0.8–1.1 µm金属、陶瓷、石墨
PYROSPOT 点温仪

PYROSPOT 点温仪

单点测温的经典形态:比热像仪便宜、比热像仪快,适合固定工位、感应加热、玻璃与半导体工艺。六个系列按「精度、速度、光纤、便携」分工,另有特殊型(硅、钨、热 CO₂ 等)。

系列定位
PYROSPOT Series 4x通用型,紧凑坚固,工业现场首选
PYROSPOT Series 5x高精度高速型,适合快速过程
PYROSPOT Series 1x高精度型,兼顾工业与研发
PYROSPOT Series 2x紧凑型,带参数化接口
PYROSPOT Series 3x光纤型,用于玻璃行业
PYROSPOT Series 8x便携型,重工业现场使用
Special pyrometers硅、钨、热 CO₂ 测温,传递辐射测温,高速型
PYROSENS 红外探测器与阵列

PYROSENS 红外探测器与阵列

热释电探测器与阵列是「传感器级」的产品:给做仪器、做气体分析、做光谱设备的客户做集成。选型先定波段与探测率,再定封装与前置放大;DIAS 提供探测器、电子与光学的一体化配套。

方向说明
光谱分析分光光度计、FTIR 等需要高灵敏度探测器的仪器
气体检测NDIR 等气体分析模块的红外探测通道
温度测量作为测温模块的前端探测器,配套电子与光学
PYROTHERM 黑体校准源

PYROTHERM 黑体校准源

校准热像仪与点温仪的标准辐射源:实验室型 CS 系列做宽温区校准,紧凑型 CCS 系列做固定温度点(如 35 °C、100 °C)的现场核查。型号名中的数字与原厂标称温区不完全一致,采购前请以对应型号样本为准。

型号辐射面 / 腔体温度范围
PYROTHERM CS 400辐射面 ⌀50 mm−15…120 °C
PYROTHERM CS 500辐射面 ⌀30 mm50…400 °C
PYROTHERM CS 1200辐射面 ⌀60 mm50…500 °C
PYROTHERM CS 1500辐射面 ⌀38 mm300…1200 °C
PYROTHERM CS F35–F150辐射面 ⌀38 mm300…1500 °C
PYROTHERM CCS 130辐射面 ⌀51 mm35…150 °C 固定点
PYROTHERM CCS 3-130辐射面 ⌀55 mm,3 个辐射面30…130 °C 固定点
系统方案与服务

系统方案与服务

不是单卖一台仪器:从光路、机械、电子到软件,DIAS 按工况做整套方案,明透负责前期的需求梳理、选型与到货后的技术支持。特殊工况(高温、狭小空间、多点同步)建议先做技术确认。

服务内容
方案咨询按被测材料、温度与现场条件确定波段、量程与光学
软件DIAS 自有采集与分析软件,支持区域测温、曲线与报告
装配与调试整机系统的机械与电气集成、现场调试
服务与校准黑体校准服务、备件与维修

Selection Guide

按场景直接对号选型

场景推荐系列 / 型号理由
看整幅画面的热分布PYROVIEW 热像仪一次拿到全画面温度,适合排查与研发
连续带材 / 玻璃 / 轧线PYROLINE 线扫描仪按材料选波段,按速度选 256 Hz 或 2000 Hz
固定工位单点测温PYROSPOT 点温仪比热像仪便宜且更快,长期在线稳定
玻璃行业测温PYROSPOT 3x 光纤型 / PYROLINE 128G·256G4.8–5.2 µm 波段,避开玻璃透射干扰
仪器厂做集成PYROSENS 探测器与阵列拿到探测器级部件,自建电子与光路
校准与年度核查PYROTHERM 黑体源宽温区用 CS 系列,固定点核查用 CCS 系列

Applications

DIAS 红外测温的典型应用

钢铁与有色金属

轧线、连铸、锻造工件的表面温度,线扫描与短波点温仪配合使用。

玻璃制造

浮法、瓶罐与玻璃熔体的表面温度,用 4.8–5.2 µm 波段避开透射。

半导体与光伏

硅片、外延与扩散工艺的高温测量,短波点温仪为主。

塑料与薄膜

挤出、压延与热成型的温度剖面,长波线扫描连续监测。

研发与测试

材料热特性、激光加热、快速热过程的瞬态记录。

设备集成

把机芯、探测器或整机嵌入客户设备,配套软件与接口。

FAQ

关于 DIAS 红外测温,您可能想问

热像仪和线扫描仪怎么选?

看被测对象是「面」还是「线」。静止或可停留的工件用热像仪,一次拿到全画面;连续移动的带材、玻璃、轧件用线扫描仪,配合产线速度得到温度剖面,成本也更低。

PYROVIEW 不同型号的差别在哪?

主要是探测器分辨率与波段。320×240/384×288 是入门,640×480 是主流,768×576 最细;L 是 8–14 µm 长波(常温到 500 °C),M/G/F 是中波(金属、玻璃),N 是 0.8–1.1 µm 短波(到 3000 °C)。

为什么要按波段选型?

红外测温看的是「材料在该波段发多少辐射」。金属在短波发射率高、抗干扰好;玻璃在 5 µm 附近不透明;塑料与建材在长波更稳定。波段选错,读数会系统性偏低或受背景影响。

线扫描的 256 Hz 和 2000 Hz 差别有多大?

扫描频率决定沿运动方向的采样密度。产线越快、要越细的纵向分辨率,就需要越高频率;HS 512N 的 2000 Hz 用于高速轧制,常规产线 256 Hz 足够。

点温仪能替代热像仪吗?

不能完全替代,但很多工位不需要整幅画面。只看一个位置、要长期在线、要更快响应时,点温仪更合适;需要找热点、看分布时还是热像仪。

测温精度受什么影响?

发射率设置、测量距离与光斑大小、环境温度、镜头污染、以及目标是否充满视场。金属表面发射率低且随氧化变化,必须现场标定或做发射率修正。

黑体源用在哪?

热像仪与点温仪的定期校准、产线上的日常核查。宽温区用 CS 系列,固定温度点用 CCS 130 / CCS 3-130,后者带三个辐射面可一次核对多点。

软件是标配吗?

DIAS 的测量数据处理软件随系统提供,支持区域测温、温度曲线与报告导出;需要接入客户 SCADA 或做二次开发时,接口与协议需提前确认。

明透工业提供什么支持?

按工况做波段与量程选型、提供原厂样本与软件、协调校准与备件。特殊工况(高温、狭小空间、多点同步)会先做技术确认再报价。

资料来源:DIAS Infrared GmbH 官网(dias-infrared.com)公司与产品资料、DIAS 中文产品样本与分册样本。表中型号、像素、测温范围与光谱范围为原厂公开口径,实际选型请以对应型号的最新数据表为准。

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